测试探针系列

全封装适配：覆盖 DIP、SOP、SOT、TO、TSSOP、SSOP 等封装，支持不同引脚间距，型号齐全。
定位精准易安装：一体式多触点集成设计，无需单颗探针校准，安装调试效率高。
成本优势显著：模块化计价，相比多根探针方案，大幅降低中低测试要求场景的投入成本。
稳定耐用：耐磨镀层工艺，适配中低频次量产测试，使用寿命长。

规格极致精密：最小外径 0.11mm、最短长度 1.00mm，适配超小间距芯片与高密度测试场景。
全场景覆盖：支持单头 / 双头、无管、同轴、开尔文探针，可定制针尖头型与镀层，适配不同测试需求。
稳定可靠：低接触电阻、优异的信号传输性能，适配高频高速、高电流及三温环境测试。
维护便捷：单颗独立设计，磨损探针可单独更换，降低长期使用成本。